RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡,微米技术实现了具有 16 种不同宽度(3 至 50μm)的高精度线对分辨率测试卡。 当今,微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸,而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。
日本JIMA RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡
微米技术实现了具有 16 种不同宽度(3 至 50μm)的高精度线对分辨率测试卡。 当今,微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸,而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。
RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡
规格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度
硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度
吸收材料:金,厚度≥1.0μm
保护膜:铝蒸汽保护膜,厚度 0.1mm
线数:3 线(只有 3-10μm:6 线)
线条宽度(线条与间距宽度相同):
T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm
线对宽度公差:±10%
工作温度:+10℃至+70℃
RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡
规格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度
硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度
吸收材料:金,厚度≥1.0μm
保护膜:铝蒸汽保护膜,厚度 0.1mm
线数:3 线(只有 3-10μm:6 线)
线条宽度(线条与间距宽度相同):
T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm
线对宽度公差:±10%
工作温度:+10℃至+70℃