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RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

简要描述:

RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡,微米技术实现了具有 16 种不同宽度(3 至 50μm)的高精度线对分辨率测试卡。 当今,微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸,而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。

  • 更新时间:2023-11-23
  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品品牌:其他品牌
  • 产品厂地:东莞市
  • 访问次数:113
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RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

日本JIMA RT CT-05B   X射线微米分辨率测试卡

微米技术实现了具有 16 种不同宽度(3 至 50μm)的高精度线对分辨率测试卡。 当今,微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸,而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。


RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

规格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料:金,厚度≥1.0μm

保护膜:铝蒸汽保护膜,厚度 0.1mm

线数:3 线(只有 3-10μm:6 线)

线条宽度(线条与间距宽度相同):

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

线对宽度公差:±10%

工作温度:+10℃至+70℃



RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

规格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料:金,厚度≥1.0μm

保护膜:铝蒸汽保护膜,厚度 0.1mm

线数:3 线(只有 3-10μm:6 线)

线条宽度(线条与间距宽度相同):

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

线对宽度公差:±10%

工作温度:+10℃至+70℃


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