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日本JIMA分辨率测试卡

简要描述:

日本JIMA分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

  • 更新时间:2023-11-23
  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品品牌:
  • 产品厂地:东莞市
  • 访问次数:137
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日本JIMA分辨率测试卡

日本JIMA分辨率测试卡

JIMA(日本检测仪器制造商协会)致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。


JIMA RT CT-01日本JIMA分辨率测试卡(专用于三维CT系统分辨率测试)

测试卡封装在一个防护盒中

图案布局:T型

线/空间尺寸:5种规格图案

3μm, 4μm, 5μm, 6μm, 7μm


JIMA RT CT-02分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 5mm

芯片尺寸(W x D x T):5 x 5 x 0.06mm

图案布局:L型

线/空间尺寸:16种规格图案

0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm, 0.9μm, 1.0μm, 1.5μm,

2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 10.0μm, 15.0μm


JIMA RT CT-04分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 5mm

芯片尺寸(W x D x T):5 x 5 x 0.015mm

图案布局:T型

线/空间尺寸:32种规格图案

0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,

0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm

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JIMA RT CT-05分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 3mm

芯片尺寸(W x D x T):8 x 8 x 0.2mm

图案布局: T型(3-10μm)

          I型(15-50μm)

线/空间尺寸:16种规格图案

3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm (T型)

15μm, 20μm, 25μm, 30μm, 35μm, 40μm, 45μm, 50μm(I型)


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