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  • 日本JIMA分辨率测试卡

    日本JIMA分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
  • RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

    RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡,微米技术实现了具有 16 种不同宽度(3 至 50μm)的高精度线对分辨率测试卡。 当今,微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸,而分辨率测试卡则是调整、设置、...
  • 德国IBA Type81型线对卡

    德国IBA Type81型线对卡:德国IBA type81型线对卡型线对卡主要用于测试X射线机的高分辨率。
  • 十字嵌铅刻度米尺(铅尺) KR019

    十字嵌铅刻度米尺(铅尺) KR019:长30cm,宽3cm,1mm刻度间距,嵌铅刻度。1套2把铅尺带有机玻璃铅尺盒。
  • 嵌铅刻度米尺(铅尺) KR018

    嵌铅刻度米尺(铅尺) KR018:嵌铅刻度米尺长30cm,宽3cm,1mm刻度间距,嵌铅刻度。
  • 过滤板套装(铜板、铝板、铅板)KR012-KR017

    过滤板套装(铜板、铝板、铅板)KR012-KR017:0.5mm厚铜板20cm x 20cm - KR012;1.5mm厚铜板20cm x 20cm - KR013
  • VISI-X检测模体

    VISI-X检测模体用于检测 X 射线机光野与照射野的一致性。 该模体也用于检测活动滤线栅(Bucky)夹中心的定位。
  • Primus I-L 检测模体

    Primus I-L 检测模体2007标准,用于数字透视(动态平板)或常规透视(影像增强器电视)X射线系统的稳定性检测。
  • Primus I-S 检测模体

    Primus I-S 检测模体用于数字透视(动态平板)或常规透视(影像增强器电视)X射线系统的稳定性检测。
  • 数字X射线摄影和透视系统检测模体 Primus

    数字X射线摄影和透视系统检测模体 Primus,满足《WS76-2020医用常规X射线诊断设备质量控制检测规范》
  • 低对比度细节检测模体TO16/TO20

    低对比度细节检测模体TO16/TO20低对比度细节模体用于快速定量检测影像成像质量,可以用于X射线放射影像系统,CR系统(TO16);透视和血管造影系统(TO20)。
  • 低对比度-细节模体 CD DISC2.0

    低对比度-细节模体 CD DISC2.0包括分析软件和便携箱 序号:VD0203720
  • 德国IBA DIGI-13 CR/DR检测模体

    德国IBA DIGI-13 CR/DR检测模体,根据DIN6868-13标准,用于CR和DR成像系统的质量检测(包括均匀性、空间分辨率、低对比分辨率、可见光野和X射线野的校准和伪影等)。
  • CRDR数字成像综合检测设备

    CRDR数字成像综合检测设备用于所有类型的CR和DR成像系统质量检测。可以同时检测以下参数∶空间分辨率、低对比度分辨率、动态范围、光野和照射野一致性、空间距离准确性。
  • CRDR多功能图像质量检测模体

    CRDR多功能图像质量检测模体,多功能图像质量检测模体,用于CR\\DR低密度分辨力、空间分辨力、射野与光野一致性以及均匀性检测。
  • CRDR数字成像综合检测板

    CRDR数字成像综合检测板根据DIN 6868-13标准,用于CR和DR成像系统的质量检测(包括均匀性、空间分辨力、低 对比分辨率、可见光野和X射线野的校准和伪影等)。
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