KS107BQ(L)型 切片厚度体模,用于检测一维阵列探头声束的切片厚度和电子聚焦的声束形状。
KS107BQ(L)型 切片厚度体模,用于检测一维阵列探头声束的切片厚度和电子聚焦的声束形状。
定制体模KS107BQ(L),参数上与KS107BQ 衔接。
超声仿组织(TM)材料声速: (1540±10)m/s [(23±3)℃]
超声仿组织(TM)材料声衰减:(0.7±0.05)dB/(cm·MHz) [(23±3)℃]
仿组织材料总深度:280mm
散射靶片层厚度:<0.4 mm
散射靶片层与声窗间夹角:70°
靶线数:27
相邻靶线间距:10mm
靶线直径:(0.3±0.05) mm
线靶位置公差:±0.1mm
可探测深度实际加深到280mm,面板横向尺寸适度加宽,散射层与声窗间夹角不变。
KS107BQ(L)型 切片厚度体模,用于检测一维阵列探头声束的切片厚度和电子聚焦的声束形状。
定制体模KS107BQ(L),参数上与KS107BQ 衔接。
超声仿组织(TM)材料声速: (1540±10)m/s [(23±3)℃]
超声仿组织(TM)材料声衰减:(0.7±0.05)dB/(cm·MHz) [(23±3)℃]
仿组织材料总深度:280mm
散射靶片层厚度:<0.4 mm
散射靶片层与声窗间夹角:70°
靶线数:27
相邻靶线间距:10mm
靶线直径:(0.3±0.05) mm
线靶位置公差:±0.1mm
可探测深度实际加深到280mm,面板横向尺寸适度加宽,散射层与声窗间夹角不变。