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耦合器加热温升试验装置

简要描述:

耦合器加热温升试验装置符合标准GB17465.1-2009第18条、图13以及IEC60320-1第18.2条及图13的要求,用于耦合器在热条件或酷热条件下的耐热性能测试。该装置由发热片和导热片、温控表、计时器、耦合器座子等组成。

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耦合器加热温升试验装置

耦合器加热温升试验装置符合标准GB17465.1-2009第18条、图13以及IEC60320-1第18.2条及图13的要求,用于耦合器在热条件或酷热条件下的耐热性能测试。该装置由发热片和导热片、温控表、计时器、耦合器座子等组成。

 

耦合器加热温升试验装置主要技术参数:

1)供电电源:AC220V  50Hz;

2)加热温度:RT常温~200℃;

3)温度分辨率0.1℃,误差±1℃;

4)加热控制方式:温控表PID控制;

5)耦合器中心距:以Φ175的圆均布排列;

6)耦合器输入插座:

a)10A 耐热及耐酷热暗装式器具输入插座各一个,外壳为耐热绝缘材料(测试10A连接器);

b)16A 耐酷热明装式器具输入插座,外壳为金属(测试16A连接器);

7)计时器:1~9999h;

8)试样工位:6工位;

9)试样温度探头:6个;

10)试样温度探头类型:T型;

11)加热板尺寸:W200mm*D200mm。

 

耦合器加热温升试验装置操作步骤:

1)接上电源线于市电,同时打开电源开关

2)将试样置于耦合器座子上,并使温度探头与试样接触

3)在温控器上设置需要加热的zui大温度

4)按加热开关开始加热,同时按计时开关

5)当温度到达设定值后,计时器开始计时,计时到达后自动停止加热,在测试过程中,温度表时时显示试样的温度。

 

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